簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共3筆資料 檢索策略: "Deep Learning".ekeyword (精準) and ckeyword.raw="自動光學檢測"


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    1

    AOI瑕疵影像深度學習卷積神經網路分類模型之研究
    • 工業管理系 /107/ 碩士
    • 研究生: 范姜皓 指導教授: 王孔政
    • 電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛,因此在自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)容易因敏感度提高而出現過篩現象,常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
    • 點閱:659下載:0
    • 全文公開日期 2024/07/03 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    2

    高速生產線瑕疵檢測之兩階段卷積神經網絡模型
    • 工業管理系 /108/ 碩士
    • 研究生: 黃怡晶 指導教授: 王孔政
    • 高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法,自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)常應用於此。然而,AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…
    • 點閱:332下載:0
    • 全文公開日期 2025/06/28 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    3

    基於生成對抗神經網路與自動光學檢測之藥錠瑕疵檢測
    • 機械工程系 /107/ 碩士
    • 研究生: 孫國育 指導教授: 林其禹
    • 台灣製藥產業對於藥錠的表面瑕疵檢測多以人力進行檢測,利用人工檢測的方式不但缺乏時間效率,且容易有不穩定及誤判之問題。近年來深度學習的發展快速,使得神經網路也逐漸應用在許多領域。如想基於卷積神經網路(…
    • 點閱:659下載:0
    • 全文公開日期 2024/08/21 (校內網路)
    • 全文公開日期 2024/08/21 (校外網路)
    • 全文公開日期 2024/08/21 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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